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  • 产品名称：安铂UEE920/921/922高精度涂层测厚仪

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简单介绍：
安铂高精度涂层测厚仪UEE920/921/922能快速、无损伤、**地进行涂、镀层的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。通过适用不同的测头，还可满足多种测量需要。本仪器**地用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护**必备的仪器。本仪器符合以下标准：GB/T 4956-1985磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量，磁性方法；GB/T 4957-1985非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量，涡流方法。JB/T 8393-1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG 889-95《磁阻法测厚仪》 JJG818-93《电涡流式测厚仪》，安铂高精度涂层测厚仪UEE920/921/922质保6年，品质保证。
详情介绍：

安铂UEE920/921/922高精度涂层测厚仪的详细介绍

安铂UEE920/921/922高精度涂层测厚仪能快速、无损伤、**地进行涂、镀层的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。通过适用不同的测头，还可满足多种测量需要。本仪器**地用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护**必备的仪器。本仪器符合以下标准：GB/T 4956-1985磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量，磁性方法；GB/T 4957-1985非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量，涡流方法。JB/T 8393-1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG 889-95《磁阻法测厚仪》 JJG818-93《电涡流式测厚仪》



安铂高精度涂层测厚仪UEE920/921/922技术参数

型号

Uee®920

Uee®921

Uee®922

测头类型

F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1

工作原理

磁感应或电涡流

测量范围

探头决定（标配探头F1或N1  0~1250μm)

低限分辨率

0.1μm

示值误差

一点校准

探头决定，标配探头±（3%H+1）

二点校准

探头决定，标配探头±[（1~3%)H+1]

    统计功能

平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、
测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）

   工作方式

直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)

   测量方式

连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）

    存储

1560个测量值

    PC通讯功能

                     有

    屏显

       黑白

    彩屏

       黑白

     外壳

      塑壳

镁铝合金

测试条件

*小曲率半径mm

凸1.5、凹9

*小面积直径mm

Φ7

基本临界厚度mm

0.5

工作环境

温度

0~40℃

湿度

20%~90%

电源

2*1.5V

2*1.5V

外形尺寸

163*78*33

130*70*30

重量

200g

300g

标准配置

主机、标准试片、基体、2节5号电池，文件资料，仪器箱，USB通讯软件

选配

多种探头

 

安铂UEE920/921/922高精度涂层测厚仪功能特点：

● 全中文菜单界面操作，简单方便；  

● 本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和

  硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基

  体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。
● 可使用7 种测头(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)
● 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；

● 具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B)；
● 设有五个统计量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、测试次数（NO．）、

  标准偏差（S．DEV）；
●多种校准方式：可采用一试片校准和两试片校准方法对仪器进行校准，并可用五试片校准对仪器的系统误差进行修正；
● 具有存储功能：可存储4类工件，每类工件26组，每组15个测量值，共1560个测量值；
● 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
● 设置限界：对限界外的测量值能自动报警；

● 具有与PC 机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC 机，以便对数据进行进一步处理；

● 操作过程有蜂鸣声提示；

● 有高亮LED背光显示，方便在光线灰暗环境使用。
● 设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式

安铂UEE920/921/922高精度涂层测厚仪测量原理

本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性涂盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电涂盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

a)       磁性法(F型测头)

       当测头与涂盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性涂盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出涂盖层的厚度。

b)       涡流法(N型测头)

    利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与涂盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出涂盖层的厚度。

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